High performance memory testingdesig...
Adams, R. Dean.

 

  • High performance memory testingdesign principles, fault modeling, and self-test /
  • 紀錄類型: 書目-電子資源 : Monograph/item
    正題名/作者: High performance memory testingR. Dean Adams.
    其他題名: design principles, fault modeling, and self-test /
    作者: Adams, R. Dean.
    出版者: Boston :Kluwer Academic,c2003.
    面頁冊數: xiii, 246 p. :ill., digital ;25 cm.
    叢書名: Frontiers in electronic testing
    Contained By: Springer e-books
    標題: Semiconductor storage devicesTesting.
    電子資源: http://dx.doi.org/10.1007/b101876
    ISBN: 9780306479724 (electronic bk.)
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