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大型邏輯晶片覆晶封裝凸塊接合缺陷研究 = The Study of Bo...
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國立高雄大學電機工程學系-半導體製造智能化技術產業碩士專班
大型邏輯晶片覆晶封裝凸塊接合缺陷研究 = The Study of Bond Joint Failure in Large Logic Flip Chip Package
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : 單行本
並列題名:
The Study of Bond Joint Failure in Large Logic Flip Chip Package
作者:
黃騏宥,
其他團體作者:
國立高雄大學
出版地:
高雄市
出版者:
國立高雄大學;
出版年:
2024[民113]
面頁冊數:
vii,46葉圖,表 : 30公分;
標題:
模擬
標題:
Simulation
電子資源:
https://handle.ncl.edu.tw/11296/ae752j
附註:
113年11月15日公開
附註:
參考書目: 葉45-46
大型邏輯晶片覆晶封裝凸塊接合缺陷研究 = The Study of Bond Joint Failure in Large Logic Flip Chip Package
黃, 騏宥
大型邏輯晶片覆晶封裝凸塊接合缺陷研究
= The Study of Bond Joint Failure in Large Logic Flip Chip Package / 黃騏宥撰 - 高雄市 : 國立高雄大學, 2024[民113]. - vii,46葉 ; 圖,表 ; 30公分.
113年11月15日公開參考書目: 葉45-46.
模擬Simulation
大型邏輯晶片覆晶封裝凸塊接合缺陷研究 = The Study of Bond Joint Failure in Large Logic Flip Chip Package
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指導教授: 施明昌博士
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博碩士論文區(二樓)
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2 筆 • 頁數 1 •
1
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310003110452
博碩士論文區(二樓)
不外借資料
學位論文
TH 008M/0019 542201 4473.1 2024
一般使用(Normal)
在架
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博碩士論文區(二樓)
不外借資料
學位論文
TH 008M/0019 542201 4473.1 2024 c.2
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