大型邏輯晶片覆晶封裝凸塊接合缺陷研究 = The Study of Bo...
國立高雄大學電機工程學系-半導體製造智能化技術產業碩士專班

 

  • 大型邏輯晶片覆晶封裝凸塊接合缺陷研究 = The Study of Bond Joint Failure in Large Logic Flip Chip Package
  • 紀錄類型: 書目-語言資料,印刷品 : 單行本
    並列題名: The Study of Bond Joint Failure in Large Logic Flip Chip Package
    作者: 黃騏宥,
    其他團體作者: 國立高雄大學
    出版地: 高雄市
    出版者: 國立高雄大學;
    出版年: 2024[民113]
    面頁冊數: vii,46葉圖,表 : 30公分;
    標題: 模擬
    標題: Simulation
    電子資源: https://handle.ncl.edu.tw/11296/ae752j
    附註: 113年11月15日公開
    附註: 參考書目: 葉45-46
館藏
  • 2 筆 • 頁數 1 •
 
310003110452 博碩士論文區(二樓) 不外借資料 學位論文 TH 008M/0019 542201 4473.1 2024 一般使用(Normal) 在架 0
310003110460 博碩士論文區(二樓) 不外借資料 學位論文 TH 008M/0019 542201 4473.1 2024 c.2 一般使用(Normal) 在架 0
  • 2 筆 • 頁數 1 •
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