大型邏輯晶片覆晶封裝凸塊接合缺陷研究 = The Study of Bo...
國立高雄大學電機工程學系-半導體製造智能化技術產業碩士專班

 

  • 大型邏輯晶片覆晶封裝凸塊接合缺陷研究 = The Study of Bond Joint Failure in Large Logic Flip Chip Package
  • Record Type: Language materials, printed : monographic
    Paralel Title: The Study of Bond Joint Failure in Large Logic Flip Chip Package
    Author: 黃騏宥,
    Secondary Intellectual Responsibility: 國立高雄大學
    Place of Publication: 高雄市
    Published: 國立高雄大學;
    Year of Publication: 2024[民113]
    Description: vii,46葉圖,表 : 30公分;
    Subject: 模擬
    Subject: Simulation
    Online resource: https://handle.ncl.edu.tw/11296/ae752j
    Notes: 113年11月15日公開
    Notes: 參考書目: 葉45-46
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310003110452 博碩士論文區(二樓) 不外借資料 學位論文 TH 008M/0019 542201 4473.1 2024 一般使用(Normal) On shelf 0
310003110460 博碩士論文區(二樓) 不外借資料 學位論文 TH 008M/0019 542201 4473.1 2024 c.2 一般使用(Normal) On shelf 0
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