應用精實六標準差探討半導體封裝製程的改善與優化 = Applying L...
周珮毓

 

  • 應用精實六標準差探討半導體封裝製程的改善與優化 = Applying Lean Six Sigma to Study the Improvement and Optimization of Semiconductor Packaging Process : 以P公司為例; The Case of the P Company
  • Record Type: Language materials, printed : monographic
    Paralel Title: Applying Lean Six Sigma to Study the Improvement and Optimization of Semiconductor Packaging Process
    Title Information: 以P公司為例
    Author: 周珮毓,
    Secondary Intellectual Responsibility: 國立高雄大學
    Place of Publication: 高雄市
    Published: 國立高雄大學;
    Year of Publication: 2021[民110]
    Description: [8],88葉圖,表 : 30公分;
    Subject: 六標準差
    Subject: Six Sigma
    Online resource: https://hdl.handle.net/11296/43dtu4
    Notes: 110年12月1日公開
    Notes: 參考書目:葉74-79
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310002982737 博碩士論文區(二樓) 不外借資料 學位論文 TH 008M/0019 343425 7718 2021 一般使用(Normal) On shelf 0
310002982745 博碩士論文區(二樓) 不外借資料 學位論文 TH 008M/0019 343425 7718 2021 c.2 一般使用(Normal) On shelf 0
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